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| 品牌 | MITUTOYO/三豐 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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| 產地類別 | 進口 |
日本Mitutoyo三豐CNC影像測量儀Hyper QV404
| 產品特點 |
| ◇CNC 影像測量儀的Quick Vision 系列配有CCD相機，無需再像測量顯微鏡和投影儀那樣進行目視調整。可輕松完成對電子元件、模壓制品、樹脂模塑制品等的自動測量。 | |
| ◇Quick Vision PRO 全部光源采用LED 照明，增強了邊緣的可檢測性、降低了功耗并延長了使用壽命。 | |
| ◇觀察系統(tǒng)采用具有高放大率和再現性的程控磚塔能在測量過程中自動切換放大率。(PRO/PRO3) | |
| ◇所有型號的產品都具有表面、邊緣和模式自動對焦的特色，增加了測量靈活性以用于多種用途?？商砑蛹す庾詣訉瓜到y(tǒng)(作為出廠安裝的選件)。 | |
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| ◇程控環(huán)形照明精細調控照明的角度和方向，提供更好測量用照明。照明角度可在30o 到80o 之間任意設定。這種照明可有效地突顯傾斜表面的邊緣以及非常小的階差。照明在前、后、左、右每個方向均可獨立控制。單向照明體以形成陰影，即可突顯邊沿，以利測量。 | ◇圖案對焦線 (存在于QV Apex型號) 即使在對比度很低的透明物體或鏡面上也能實現清晰聚焦。應用于不同表面的高度測量。 |
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| ◇表面聚焦系統(tǒng)可用于測量各種區(qū)域尺寸的高度，其優(yōu)點在于，即使在樹脂成型表面或機械加工表面等非常粗糙處，也不影響聚焦效果。 | ◇邊緣對焦系統(tǒng)能夠對邊緣位置準確聚焦。 |
日本Mitutoyo三豐CNC影像測量儀Hyper QV404
| 產品規(guī)格 |
| 型號 | Hyper QV302 | Hyper QV404 | Hyper QV606 | |
| 分辨力 | 0.02μm | |||
| 長度測量裝置 | 線性編碼器 | |||
| 精度精度 *1 *2 | E1X, E1Y | (0.8+2L/1000)μm | ||
| E1Z | (1.5+2L/1000)μm | |||
| E2XY | (1.4+3L/1000)μm | |||
| 臺面大承重 *3 | 15kg | 30kg | 40kg | |
| 影像測量系統(tǒng) |
| 根據Quick Vision 系統(tǒng)收集的測量數據檢測X、Y 和Z 軸位置數據，并隨即對坐標和尺寸進行計算處理。 | |
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| QV PartManager QV PartManager 適用于對測量臺上的多個工件進行測量分析的程序管理軟件。 | 脫機教學軟件 EASYPAG PRO 該軟件利用2D CAD 數據創(chuàng)建QVPAK 測量程序?？蓽p少制作程序所需的時間，縮短工時。 PAGPAK 這是利用NC 數據、CAD 數據和Gerber 數據創(chuàng)建QVPAK 程序的離線教學軟件。
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| 測試圖軟件/ 統(tǒng)計處理軟件 MeasureReportQV 該軟件可根據QV 測量結果生成檢驗報告。 MeasurLink 本軟件可對測量結果進行統(tǒng)計計算處理。 | 外部控制軟件 QVEio-PLC/QVEio-PC/QVEio-Signal 這是一款客戶端應用程序軟件，可通過連接PLC 或外部電腦上的遠程軟件從外部控制QVPAK 或提供QVPAK 的操作狀態(tài)。該軟件可用于連接自動傳輸機器人和信號塔。 |
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| 測量支持軟件 QV3DCAD-OnLine 該軟件利用3DCAD數據創(chuàng)建QVPAK測量程序。可減少制作程序所需的時間，縮短工時。 QV-CAD I/F 該軟件在圖形窗口中顯示CAD 數據以提高測量可操作性。 | 形狀評價/ 分析軟件 FORMPAK-QV 根據QV 自動跟蹤工具和非接觸式位移傳感器獲得的形狀數據，對設計值和形狀分析進行分析。 |
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| QV3DPAK 該軟件可根據PFF(點形態(tài)聚焦)或WL I (白光干涉) 數據生成3D形狀。 | FORMTRACEPAK-PRO 該軟件可根據QV 混合系列的非接觸式位移傳感器獲得的數據進行3D 形狀分析。 |
| 產品選件 |
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| QV-INDEX 作為測量的擴展和合理化，通過一次設置不僅能夠測量工件的正面，側面和后面亦可測量。 | 物鏡 多種可選物鏡使光學系統(tǒng)可在0.5 至25X 的范圍內選擇符合測量用途的放大率。另有長工作距離的型號可選。 |
| RGB 彩色濾光裝置 鹵素光源QUICK VISION 的表面照明和程序控制環(huán)形照明均可附加彩色過濾功能。測量彩色的低反光工件時，通過突出邊緣，從而達到更易于邊緣檢測的效果。舊型QUICK VISION 也可以更新。濾光鏡切換到黃色是，即可實現在感光靈敏的黃光室中進行影像測量。 | |
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